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超聲波檢測通用工藝規(guī)程 1.主要內(nèi)容與適用范圍 本規(guī)程規(guī)定了焊縫超聲檢測人員具備的資格、儀器、探頭、試塊、檢測技術(shù)方法和質(zhì)量分級等。 本規(guī)程適用于本公司生產(chǎn)的厚度為6mm～30mm鋼制承壓設(shè)備全熔化焊的超聲檢測。不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫，外徑小于159mm的鋼管對接焊縫，內(nèi)徑小于或等于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向焊縫檢測。 本規(guī)程按JB4730的要求編寫，符合《容規(guī)》和GB150等要求。 檢測工藝卡是本規(guī)程的補(bǔ)充，由Ⅱ級人員按本規(guī)程等要求編制，其檢測參數(shù)規(guī)定的更具體。 2.引用標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī) JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》 GB150-1998《鋼制壓力容器》 JB/T9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法》 JB/T10061-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件》 JB/T10062-1999《超聲探傷用探頭性能測試方法》 3.檢測人員 3.1檢測人員必須經(jīng)過培訓(xùn)，按《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求。經(jīng)理論和實(shí)踐考試合格，取得相應(yīng)等級資格證書的人員擔(dān)任。 3.1.1檢測人員每年應(yīng)檢查一次身體，其矯正視力不低于1.0。 4.探傷儀、探頭和試塊 4.1探傷儀 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀器，其工作頻率范圍為0.5 MHz～10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。儀器應(yīng)具有80dB以上的可調(diào)衰減器，步進(jìn)級每檔不大于2Db，其精度為任意相鄰12 dB的誤差在1dB 以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB.。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%。 4.2探頭 4.2.1晶片面積一般不應(yīng)超過500mm2，且任意一邊長原則上不大于25 mm 。 4.2.2單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2度，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。 4.3儀器和探頭的系統(tǒng)性能 4.3.1在達(dá)到所檢工件的最大檢測聲程時(shí)，其靈敏度余量應(yīng)≥10dB。 4.3.2直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)大于或等于30 dB ，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)大于或等于6dB 。 4.3.3儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測試。 4.4超聲檢測的一般方法 4.4.1掃查覆蓋率 檢測時(shí)探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。 4.4.2探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/S。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。 4.4.3掃查靈敏度 掃查靈敏度不得低于基準(zhǔn)靈敏度。 4.4.4采用機(jī)油、漿糊、甘油和水等透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑。 4.4.5檢測準(zhǔn)備 4.4.5.1所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。 4.4.5.2焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼? 4.5系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核 4.5.1校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。 4.5.2儀器校準(zhǔn) 每隔三個(gè)月至少應(yīng)對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定。測定方法按JB/T10061的規(guī)定 4.5.3新購探頭測定 新探頭開始使用前應(yīng)對探頭進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定方法按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。 4.6儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 每次檢測前均應(yīng)對掃描線、靈敏度進(jìn)行復(fù)核，遇到下屬情況應(yīng)隨時(shí)對其進(jìn)行重新核查： 4.6.1校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)； 4.6.2檢測人員懷疑掃描量程或靈敏度有變化時(shí)； 4.6.3連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí)； 4.6.4工作結(jié)束時(shí)。 4.7工作結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 4.7.1 每次檢測結(jié)束前,應(yīng)對掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描上的偏移超過掃描讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)予以修正，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。 4.7.2 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。對距離一波幅曲線的校核應(yīng)不少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次以來所有的檢測結(jié)果進(jìn)行復(fù)核，如幅度上升2 dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。 4.8超聲檢測技術(shù)等級選擇 超聲檢測技術(shù)等級分為A、B、C三個(gè)等級。一般選擇B級或按設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。 4.9試塊 4.9.1試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或相近似聲學(xué)性能的材料制成，該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。 4.9.2采用標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA 。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合標(biāo)準(zhǔn)要求。 4.9.3檢測曲面工件進(jìn)行檢測，如檢測面曲率半徑R小于或等于W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)焊縫檢測時(shí)為探頭寬度,縱焊縫檢測時(shí)為探頭長度），應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊。 5.檢測面 5.1當(dāng)檢測母材厚度小于46mm承壓設(shè)備焊縫時(shí),一般采用一種K值探頭,利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對整個(gè)焊接接頭進(jìn)行檢測。 5.2檢測區(qū)域的寬度是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度的30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm, 最大為10mm。 5.3探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，其表面粗糙度Ra值應(yīng)小于6.3μm，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。 5.4采用一次反射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25P； P=2TK 式中；P—跨距，mm T—母材厚度，mm K—探頭K值 5.5采用直射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于0.75P。 5.6探頭K值(角度) 斜探頭的K值(角度)選取可參照表1的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)量采用較大K值探頭。 表1 推薦采用的斜探頭K值 板厚T, mm K值 6～25 3.0～2.0 >25～46 2.5～1.5 6. 距離—波幅曲線的繪制 6.1距離—波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線、和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包適定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)。 6.2距離—波幅曲線的靈敏度選擇 6.2.1壁厚為6～46mm的焊縫，其距離—波幅曲線靈敏度按表2的規(guī)定。 6.2.2檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB 6.2.3檢測面曲率半徑R小于或等于W2/4時(shí)，距離—波幅曲線的繪制應(yīng)在與檢測面曲率相同的對比試塊上進(jìn)行。 6.2.4工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同。 6.2.5掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。 表2 距離—波幅曲線的靈敏度 試塊型式 板厚 mm 評定線 定量線 判廢線 CSK－ⅡA 6～46 φ2χ40－18dB φ2χ40－12dB φ2χ40－4dB CSK－ⅢA 8～15 φ1χ6－12 dB φ1χ6－6dB φ1χ6+2dB >15～46 φ1χ6－9dB φ1χ6－3dB φ1χ6+5dB 7. 檢測方法 7.1平板對接焊縫的檢測 7.1.1為檢測縱向缺陷，用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上,作鋸齒型掃查,探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面,在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10～15左右轉(zhuǎn)動(dòng). 7.1.2 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時(shí)，可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心成10～20作斜平行掃查。如焊縫余高磨平，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。 7.1.3為確定缺陷的位置、方向和形狀，觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形的區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號,可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。 7.2曲面工件(直徑小于或等于500mm)對接焊縫的檢測 7.2.1 檢測面為曲面時(shí),可盡量按平板對接焊縫的檢測方法進(jìn)行檢測，對于受幾何形狀限制，無法檢測的部位應(yīng)記錄。 7.2.2縱縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。 7.2.2.1根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭。 7.2.2.2探頭接觸面修磨后，注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測定。 7.2.3應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。 7.2.4環(huán)縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率的0.9～1.5倍。 8.超聲檢測記錄、報(bào)告和資料的存檔 8.1超聲檢測記錄 超聲檢測現(xiàn)場原始記錄及檢測位置圖由Ⅰ、Ⅱ級檢測人員按規(guī)定填寫并簽字認(rèn)可。 8.2超聲檢測報(bào)告 超聲檢測報(bào)告應(yīng)準(zhǔn)確、完整，并經(jīng)Ⅱ級以上相應(yīng)責(zé)任人員簽字認(rèn)可。 超聲波探傷儀操作步驟進(jìn)行定性測試 一、直探頭 1、 儀器設(shè)置探傷儀： （1） 基本主菜單 ① 范圍：根據(jù)工件的厚度確定 ②聲速為5920米/秒 （2） 斜探頭主菜單 ①探頭角度為“0 2. 儀器校準(zhǔn) （1）將探頭偶合到CSK-ⅢA試塊上，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)，使一次底波和二次底波分別對應(yīng)相對水平刻度，此時(shí)探頭零點(diǎn)顯示值即為該值探頭零點(diǎn)（如果不校準(zhǔn)，一般設(shè)為0.8-09） 3.測量 ①范圍：當(dāng)厚度較小時(shí)，一般范圍為厚度的五倍；當(dāng)厚度較大時(shí)范圍為厚度的2倍 ②如果材料厚度較大時(shí)，主要看始波與一次回波之間有沒有超過標(biāo)準(zhǔn)的波或一次回波下降程度。 ③如果材料厚度較小時(shí)，主要看一次回波與二次回波之間有沒有超過標(biāo)準(zhǔn)的波或一次回波下降程度。有時(shí)需要看一次回波后面有無缺陷波 二、斜探頭 1.儀器設(shè)置 （1） 基本主菜單 ① 范圍：100 2. 儀器校準(zhǔn) ①將探頭偶合到CSK-Ⅰ試塊相應(yīng)位置，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)，使100圓弧和50圓弧反射波分別對應(yīng)相應(yīng)的水平刻度，此時(shí)的探頭零點(diǎn)顯示值即為該斜探頭零點(diǎn)，同時(shí)讀出此時(shí)探頭的前沿，記錄并輸入儀器 ②將探頭偶合到K值校準(zhǔn)位置，找到最高波，如此時(shí)探頭前沿對應(yīng)的刻度值與K 值吻合，則K值校準(zhǔn)完畢，如誤差大于0.1，則該探頭不再使用 3.測量 （1）基本主菜單 ①當(dāng)使用一次波測量時(shí)，范圍為≥ d+kd ;當(dāng)使用一次波測量時(shí)，范圍為≥2 d+kd ②聲速為3230米/秒 ③輸入已經(jīng)校正的該探頭延時(shí) （2）斜探頭主菜單 ①探頭角度為“校準(zhǔn)值” ② 厚度≧材料厚度 （2） 進(jìn)行測量 ①只要在相應(yīng)的靈敏度下，探傷儀有波出現(xiàn)即為傷波，同時(shí)根據(jù)DAC曲線或計(jì)算法給缺陷定性定量 磁粉探傷操作規(guī)程 1目的 該項(xiàng)操作規(guī)程，對壓力容器產(chǎn)品的磁粉探傷實(shí)施有效控制。 2適用范圍 本規(guī)程適用于原材料板材及管材的探傷，并且也適用于加工產(chǎn)品鍛件、鑄件、焊接件的探傷。 3操作規(guī)程 3.1預(yù)清洗 所有材料和試件的表面應(yīng)無油脂及其他可能影響磁粉正常分布、影響磁粉堆積物的密集度、特性以及清晰度的雜質(zhì)。 3.2缺陷的探傷 磁粉探傷應(yīng)以確保滿意的測出任何方面的有害缺陷為準(zhǔn)。使磁力線在切實(shí)可行的范圍內(nèi)橫穿過可能存在于試件內(nèi)的任何缺陷。 3.3探傷方法的選擇 1)濕法 磁懸液應(yīng)采用軟管澆淋或浸漬法施加于試件，使整個(gè)被檢表面完全被覆蓋，磁化電流應(yīng)保持1/5~1/2秒，此后切斷磁化電流，采用軟管澆淋或浸漬法施加磁懸液。 2)干法 磁粉應(yīng)直接噴或撒在被檢區(qū)域，并除去過量的磁粉，輕輕地震動(dòng)試件，使其獲得較為均勻的磁粉分布。應(yīng)注意避免使用過量的磁粉，不然會(huì)影響缺陷的有效顯示。 3)檢測近表面缺陷 檢測近表面缺陷時(shí)，應(yīng)采用濕粉連續(xù)法，因?yàn)榉墙饘賷A雜物引起的漏磁通值最小，檢測大型鑄件或焊接件中近表面缺陷時(shí)，可采用干粉連續(xù)法。 4)周向磁化 在檢測任何圓筒形試件的內(nèi)表面缺陷時(shí)，都應(yīng)采用中心導(dǎo)體法；試件與中心導(dǎo)體之間應(yīng)有間隙，避免彼此直接接觸。當(dāng)電流直接通過試件時(shí)，應(yīng)注意防止在電接觸面處燒傷，所有接觸面都應(yīng)是清潔的。 5)縱向磁化 用螺線圈磁化試件時(shí)，為了得到充分磁化，試件應(yīng)放在螺線圈內(nèi)的適當(dāng)位置上。螺線圈的尺寸應(yīng)足以容納試件。 3.4退磁 將零件放于直流電磁場中，不斷改變電流方向并逐漸將電流降至零值。大型零件可使用移動(dòng)式電磁鐵或電磁線圈分區(qū)退磁。 3.5后清洗 在檢驗(yàn)并退磁后，應(yīng)把試件上所有的磁粉清洗干凈；應(yīng)該注意徹底清除孔和空腔內(nèi)的所有堵塞物。 注：磁粉探傷遵循的標(biāo)準(zhǔn) 1鋼制壓力容器磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn) JB3965-85標(biāo)準(zhǔn)適用于檢查鐵磁性材料制成的壓力容器焊縫及工件表面或近表面的裂紋和其他缺陷，對于鐵磁性材料的毛坯件、半成品及成品也可參照本標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)。 2壓力容器鍛件磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn) JB4248-86標(biāo)準(zhǔn)適用于檢查鐵磁性材料制成的壓力容器鍛件以及高壓緊固件的表面和近表面缺陷。 3鋼鐵材料的磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn) ZBJ04006-87本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋼鐵材料及其制品的磁粉探傷方法和缺陷磁痕的等級分類，適用于檢測試件表面的裂紋及其他缺陷。 4鍛鋼件的磁粉檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) JB/ZQ6101-85標(biāo)準(zhǔn)適用于鍛鋼件的磁粉檢驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢驗(yàn)方法，可以得出作為驗(yàn)收依據(jù)的可靠結(jié)果。本標(biāo)準(zhǔn)不包括驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或質(zhì)量等級標(biāo)準(zhǔn)。 本標(biāo)準(zhǔn)等效采用ASTMA275-83《鍛鋼件的磁粉檢驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》。 5鑄件磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn) 在GB9444-88標(biāo)準(zhǔn)中適用于導(dǎo)磁鋼鑄件表面及近表面缺陷的檢驗(yàn)和質(zhì)量評級。當(dāng)磁場強(qiáng)度等于2.4KA/m時(shí)，材料中磁感應(yīng)強(qiáng)度大于1T的鑄鋼稱為異磁鋼。 滲透探傷方法 滲透探傷方法 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢驗(yàn)表面開口缺陷的滲透探傷方法及缺陷顯示痕跡的等級分類。 1 一般事項(xiàng) 1.1探傷前應(yīng)預(yù)先考慮到被檢物表面上可能出現(xiàn)的缺陷種類及大小，被檢物的用途、表面粗糙度、數(shù)量和尺寸以及探傷劑的性質(zhì)，然后選擇適當(dāng)?shù)姆椒按_定操作細(xì)則。 1.2 本標(biāo)準(zhǔn)中的等級分類適用于最終加工面上缺陷的顯示痕跡。合格等級應(yīng)事先由供需雙方協(xié)商確定。 1.3 從事探傷或缺陷等級評定的人員，必須持有國家有關(guān)主管部門頒發(fā)的并與其工作相適應(yīng)的無損檢測人員技術(shù)資格證書。 1.4 滲透探傷劑應(yīng)配套使用，不同型號的滲透探傷劑不能混用。 2 術(shù)語定義 2.1 滲透時(shí)間 指施加滲透劑到開始乳化處理或清洗處理之間的時(shí)間，包括排液所需的時(shí)間。 2.2 乳化處理 將乳化劑施加到被檢物表面的操作。 2.3 乳化時(shí)間 從施加乳化劑到開始清洗處理的時(shí)間。 2.4 去除處理 擦去附著在被檢物表面的溶劑去除型滲透劑的操作。 2.5顯象處理 在干式顯象法中，指施加顯象劑到開始觀察的時(shí)間；在濕式顯象法中，指從顯象劑干燥到開始觀察的時(shí)間。 2.6 缺陷顯示痕跡 滲入缺陷中的滲透劑在被檢表面析出時(shí)呈現(xiàn)的痕跡。 2.7 假缺陷顯示 不是由于缺陷所造成的顯示痕跡。 2.8 其它術(shù)語定義參見JB 3111-82《無損檢測名詞術(shù)語》。 3 探傷方法 3.1 探傷方法分類 根據(jù)滲透劑種類和顯像劑種類的不同，滲透探傷方法按表1和表2分類。 表１按滲透劑種類分類的滲透探傷方法 ━━━━━━━┯━━━━━━━━━━━━━┯━━━━━━ 方 法 名 稱 │ 滲透劑 種 類 │ 方 法 代 號 ───────┼─────────────┼────── │ 用水洗型熒光滲透劑 │ ＦＡ 熒光滲透 ├─────────────┼────── │ 用后乳化型熒光滲透劑 │ ＦＢ 探 傷 ├─────────────┼────── │ 用溶劑去除型熒光滲透劑 │ ＦＣ ───────┼─────────────┼────── │ 用水型著色滲透劑 │ ＶＡ 著色滲透 ├─────────────┼────── │ 用后乳化型著色滲透劑 │ ＶＢ 探 傷 ├─────────────┼────── │ 用溶劑去除型著色滲透劑 │ ＶＣ ━━━━━━━┷━━━━━━━━━━━━━┷━━━━━━ 注:用于后乳化型熒光滲透劑的乳化劑有油基和水基兩種. 表２按顯像方法分類的滲透探傷方法 ━━━━━━━┯━━━━━━━━━━━━━┯━━━━━━ 方 法 名 稱 │ 顯像劑 種 類 │ 方 法 代 號 ───────┼─────────────┼────── 干式顯像法 │ 用干式顯像劑 │ Ｄ ───────┼─────────────┼────── │ 用濕式顯像劑 │ Ｗ 濕式顯像法 ├─────────────┼────── │ 用快干式顯像劑 │ Ｓ ───────┼─────────────┼────── 無顯像劑顯像法│ 不用顯像劑 │ Ｎ ━━━━━━━┷━━━━━━━━━━━━━┷━━━━━━ 3.2 探傷步驟 按表1、表2中各方法的組合使用，其探傷步驟見表3的順序。 3.3 探傷操作 3.3.1 前處理 3.3.1.1向被檢物表面施加滲透劑前，必須徹底清除妨礙滲透劑滲入缺陷的油脂、涂料、鐵銹、氧化皮及污物等附著物以及殘留在缺陷中的油脂及水份。 3.3.1.2根據(jù)附著物的種類、污染程度以及被檢物材質(zhì)的不同，可分別采用溶劑清洗、蒸汽清洗、涂膜剝離、堿洗和酸洗等方法進(jìn)行清除處理。不允許采用噴砂、噴丸等可能堵塞缺陷開口的方法。 3.3.1.3 對被檢物表面進(jìn)行局部探傷時(shí)，準(zhǔn)備工作范圍應(yīng)從探傷部位四周向外擴(kuò)展25mm。 3.3.1.4 準(zhǔn)備工作后，必須使被檢物表面上預(yù)清洗過程中殘留的溶劑、清洗劑和水份等充分干燥。 3.3.1.5 必須根據(jù)ZB J04 003-87《控制滲透探傷材料質(zhì)量的方法》確認(rèn)探傷劑符合要求。 3.3.2 滲透處理 3.3.2.1滲透處理可根據(jù)被檢物的數(shù)量、尺寸、形狀以及滲透劑的種類選用浸漬、噴灑和涂刷等方法，并在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)保持滲透劑將探傷部位的表面全部潤濕。 3.3.2.2滲透時(shí)間取決于滲透劑的種類、被檢物的材質(zhì)、預(yù)測缺陷的種類及大小,以及被檢物和滲透劑的溫度，一般在15-50℃范圍內(nèi)以表4所列時(shí)間為基準(zhǔn)。在3-15℃的范圍內(nèi)應(yīng)根據(jù)溫度適當(dāng)增加滲透時(shí)間；超過5℃或低于3℃時(shí)，則應(yīng)根據(jù)滲透劑的種類和被檢物的溫度等另行考慮決定。 某些特殊滲透劑的滲透時(shí)間可不受表4所限，但在試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)必須加以說明。 探 傷 步 驟 所使用的滲透劑 和顯象劑種類 法代號│前處│滲│乳│清│去│干│顯│干│觀│后處 理 透 化 洗 除 燥 像 燥 察 理 水洗型熒光滲透劑-干式顯像劑FA-D o →o------→o-------→o →o------→o---→o 水洗型熒光滲透劑或水洗型著色 滲透劑----濕式顯像劑 FA-W o---→o --?--→o--- ?---→o→o→o--→o VA-W 水洗型熒光滲透劑或水洗型著色 滲透劑----快干式顯像劑 FA-S o---→o -?--→ o--- ?→o-→o-----→o--→o VA-S 水洗型熒光滲透劑-不用顯像劑FA-N o---→o-------→o-------→o-------------→o--→o 后乳化型熒光滲透劑-干式顯像劑FB-D o--→o -→o-→o-------→o-→o-----→o---→o 后乳化型熒光滲透劑-濕式顯像劑FB-W o-→o -→o-→o--------------→o-→o→o-→o 后乳化型熒光滲透劑-快干式顯像劑FB-S o→o→o→o-------→o→o-------→o-→o 溶劑去除型熒光滲透劑-干式顯像FC-Do---→o---------------→o-----→o-------→o--→o 溶劑去除型熒光滲透劑或 FC-Wo---→o---------------→o-----→o--→o→o-→o 溶劑去除型著色滲透劑-濕式顯像劑 VC-W 溶劑去除型熒光滲透劑或 FC-So---→o---------------→o-------→o--------→o→o 溶劑去除型著色滲透劑-快干式顯像劑VC-S 溶劑去除型熒光滲透劑-不用顯像劑FC-No→o------------→o--------------------→o→o 后乳化型著色滲透劑-干式顯像劑VB-D o→o-→o--→o-------→o -→o----→o→o 后乳化型著色滲透劑-濕式顯像劑VB-W o--→o →o--→o--------→o--→o--→o→o 后乳化型著色滲透劑-快干式顯像劑VB-So-→o →o-→o→o→o →o→o→o→o 3.3.2.3 在進(jìn)行乳化或清洗處理前，對被檢物表面所附著的殘余滲透劑要盡可能滴干。 使用水基乳化劑時(shí)，應(yīng)用水噴法排除多余的滲透劑；如無特殊規(guī)定，水壓一般在14ＭＰa(1.4kgf/平方厘米)左右。 3.3.3 乳化處理 3.3.3.1 可采用浸漬、澆注、噴灑等方法將乳化劑施加于被檢物表面，乳化必須均勻。 3.3.3.2乳化時(shí)間取決于乳化劑和滲透劑的性能及被檢物表面粗糙度。原則上用油基乳化劑的乳化時(shí)間在2min內(nèi)，用水基乳化劑的乳化時(shí)間在5min內(nèi)。 3.3.4 清洗處理和去除處理 3.3.4.1清洗處理和去除處理是為了去除附著在被檢物表面的殘余滲透劑；在處理過程中既要防止處理不足而造成對缺陷顯示痕跡識別的困難，同時(shí)也要防止處理過度而使?jié)B入缺陷中的滲透劑也被洗去。用熒光滲透劑時(shí)，可在紫外線照射下邊觀察處理程度、邊進(jìn)行操作。 3.3.4.2水洗型及后乳化型滲透劑均用水清洗，使用噴咀時(shí)的水壓，在沒有特殊規(guī)定情況下應(yīng)不大于34ＭＰa(3.5kgf/平方厘米)。 表4 滲透時(shí)間和顯像時(shí)間(指最少時(shí)間) ━━━━━━━━━━┯━━━━━━━━━━┯━━━━━━━━━━┯━━━━━━━━ │ │ │各種方法的滲透劑 材 質(zhì) │ 形 態(tài) │ 缺 陷種類 ├────┬──── │ │ │滲透時(shí)間│顯像時(shí)間 │ │ │ min │ min ──────────┼──────────┼──────────┼────┼─── 鋁、鎂、鋼鐵、黃銅、│鑄件、焊接件 │泠疤、氣孔、熔融 │ 5 │ 7 │ │不良、裂紋 │ │ ├──────────┼──────────┼────┼──── 青銅、鈦、耐熱合金 │軋制棒材、鍛件、板材│鱗狀缺陷、裂紋 │ 10 │ 7 ──────────┼──────────┼──────────┼────┼─── 帶硬質(zhì)合金刀片的工具│ │熔融不良、氣孔、斷裂│ 5 │ 7 ──────────┼──────────┼──────────┼────┼─── 塑 料 │ 各種形態(tài) │ 裂 紋 │ 5 │ 7 ──────────┼──────────┼──────────┼────┼─── 玻 璃 │ 各種形態(tài) │ 裂 紋 │ 5 │ 7 ──────────┼──────────┼──────────┼────┼─── 陶 瓷 │ 各種形態(tài) │ 裂 紋 │ 5 │ 7 ━━━━━━━━━━┷━━━━━━━━━━┷━━━━━━━━━━┷━━━━┷━━━ 注:表中以外的其它缺陷種類，其滲透時(shí)間和顯像時(shí)間不受表4限制. 3.3.4.3溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除。除了特別難于去除的場合外，一般都用蘸有清洗劑的布和紙擦拭；不得往復(fù)擦拭，不得將被檢件浸于清洗劑中或過量地使用清洗劑。 3.3.5 干燥處理 3.3.5.1 在使用濕式顯像劑時(shí)，經(jīng)3.3.6.2條處理后，應(yīng)使附著于被檢物表面的顯像劑迅速干燥。 使用干式或快干式顯像劑時(shí)，干燥處理應(yīng)在顯像處理前進(jìn)行。 被檢物表面的干燥溫度應(yīng)控制在示大于52℃范圍。 3.3.5.2 用清洗劑去除時(shí)，應(yīng)自然干燥或用布或紙擦干，不得加熱干燥。 3.3.6 顯像處理 3.3.6.1用干式顯像法時(shí)經(jīng)3.3.5.1條處理后，用適當(dāng)方法將顯像劑均勻地覆蓋在整個(gè)被檢物表面上，并保持一定時(shí)間。 3.3.6.2用濕式顯像劑時(shí)，被檢物經(jīng)清洗或清除處理后可直接浸入濕式顯像劑中，也可將顯像劑噴灑、涂刷到被檢物上，然后迅速排除殘余顯像劑，再按3.3.5.1條進(jìn)行處理。 3.3.6.3用快干式顯像劑時(shí)，先要經(jīng)過3.3.5.1條處理，然后再噴灑或涂刷顯像劑，但切不可將被檢物浸于顯像劑中。噴涂上顯像劑后，應(yīng)進(jìn)行自然干燥或用低溫空氣噴吹干燥。 3.3.6.4 用濕式及快干顯像劑時(shí)，顯像劑應(yīng)噴涂得薄而均勻，以略能看出被檢物表面為宜，不要在同一部位反復(fù)涂敷。 3.3.6.5顯像時(shí)間取決于顯像劑的種類、預(yù)計(jì)的缺陷種類和大小以及被檢物的溫度等因素。一般在15-50℃范圍內(nèi)按表4所列的時(shí)間為宜；特殊顯像劑的顯像時(shí)間可不受表4所限，但在試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)必須加以說明。 3.3.7 觀察 3.3.7.1觀察顯示的痕跡應(yīng)在顯像劑施加后7-30min內(nèi)進(jìn)行，如顯示痕跡的大小不發(fā)生變化，則可超過上述時(shí)間。 3.3.7.2 熒光滲透探傷時(shí)，觀察前要有5min以上的時(shí)間使眼睛適應(yīng)暗室，被檢物表面上的標(biāo)準(zhǔn)熒光強(qiáng)度應(yīng)大于50Lx(按GB5097-85黑光源的間接評定方法測定)。著色滲透探傷時(shí)應(yīng)在350 Lx以上的可見光下進(jìn)行觀察。 3.3.7.3當(dāng)出現(xiàn)顯示痕跡時(shí)，必須確定此痕跡是真缺陷還是假缺陷顯示；如無法確定，則應(yīng)進(jìn)行復(fù)驗(yàn)或?qū)υ摬糠诌M(jìn)行放大觀察，或用其它方法進(jìn)行驗(yàn)證。 3.3.8 復(fù)驗(yàn) 在探傷過程中探傷結(jié)束后，若發(fā)現(xiàn)下列情況必須重新將試件徹底清洗干凈進(jìn)行檢驗(yàn)： a. 探傷結(jié)束時(shí)，用對比試塊(見ZB J04003附錄A)驗(yàn)證； b.發(fā)現(xiàn)靈敏度下降難以確定痕跡是真缺陷還是假缺陷顯示時(shí)； C. 供需雙方有爭議或認(rèn)為有其它需要時(shí)； d.若難于按第6條規(guī)定對缺陷顯示痕跡作等級分類時(shí)，必須通過復(fù)驗(yàn)或用供需雙方同意的方法加以驗(yàn)證。 3.3.9 后處理 探傷結(jié)束后，為了防止殘留的顯像劑腐蝕被檢物表面或影響其使用，必要時(shí)應(yīng)清除顯像劑。清除方法可用刷洗、噴氣、噴水、用布或紙擦除等方法。 4 探傷劑 4.1 探傷劑包括滲透劑、乳化劑、清洗劑、顯像劑。 4.2 探傷劑必須具有良好性能?？刂铺絺麆┑馁|(zhì)量要求見ZB J04 003。 4.3 在某些特殊要求的場合，例如對氯、氟含量及含硫量等需要加以限制時(shí)，可由供需雙方協(xié)商。 5 對比試塊 對比試塊應(yīng)符合ZB J04 003附錄A的要求。 6 缺陷顯示跡痕的等級分類 6.1 缺陷顯示跡痕的種類 缺陷顯示跡痕按其形狀及集中程度可分為三種： a.線性缺陷顯示跡痕 其長度為寬度三倍以上的缺陷痕跡； b.圓狀缺陷顯示跡痕 除了線性缺陷顯示跡痕之外的其它缺陷，均為圓狀缺陷顯示跡痕； C.分散狀缺陷顯示跡痕 在一定區(qū)域內(nèi)存在幾個(gè)缺陷顯示痕跡。 6.2 缺陷顯示跡痕的等級分類 6.2.1 線狀和圓狀缺陷顯示跡痕的等級分類根據(jù)其長度按表5進(jìn)行。、 表５線狀和圓狀缺陷顯示跡痕的等級分類 ━━━━━━━━━━━━━━━━━┯━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 等 級 分 類 │ 缺陷顯示跡痕的長度 ─────────────────┼────────────────── １級 │ ≥１ ＜２ ─────────────────┼────────────────── ２級 │ ≥２ ＜４ ─────────────────┼────────────────── ３級 │ ≥４ ＜８ ─────────────────┼────────────────── ４級 │ ≥８ ＜１６ ─────────────────┼────────────────── ５級 │ ≥１６ ≥３２ ─────────────────┼────────────────── ６級 │ ≥６４ ＜３２ ─────────────────┼────────────────── ７級 │ ＜６４ ━━━━━━━━━━━━━━━━━┷━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 6.2.2分散狀缺陷顯示跡痕的等級分類根據(jù)表6所列數(shù)值進(jìn)行，在2500平方毫米矩形面積內(nèi)(矩形最大邊長為150mm)長度超過1mm缺陷顯示跡痕的總和。 表６分散狀缺陷顯示跡痕的等級分類 mm ━━━━━━━━━━━━┯━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 等 級 分 類 │ 缺陷顯示跡痕的長度總和 ─────────────────┼────────────────── １級 │　　　　　≥２ ＜４ ─────────────────┼────────────────── ２級 │ ≥４ ＜８ ─────────────────┼────────────────── ３級 │ ≥８ ＜１６ ─────────────────┼────────────────── ４級 │ ≥１６ ＜３２ ─────────────────┼────────────────── ５級 │ ≥３２ ＜６４ ─────────────────┼────────────────── ６級 │ ≥６４ ＜１２８ ─────────────────┼────────────────── ７級 │ ≥１２８ ━━━━━━━━━━━━━━━━━┷━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 6.2.3 當(dāng)有2個(gè)或2個(gè)以上缺陷顯示跡痕大致在同一條連線上、同時(shí)間距又小于2mm 時(shí)，則應(yīng)看作是一個(gè)連續(xù)的線狀缺陷顯示跡痕(包括跡痕長度和間距)。當(dāng)缺陷顯示 跡痕中最短的跡痕長度小于2mm而間距又大于顯示跡痕時(shí)，則可看作單獨(dú)的缺陷顯示跡痕；間距小于顯示跡痕時(shí)，則可看作密集型的缺陷顯示跡痕(參照6.2.2條，按表6評定缺陷顯示跡痕的長度總和等級)。 7 探傷結(jié)果的標(biāo)識與記錄 7.1 缺陷顯示 缺陷顯示跡痕可根據(jù)需要分別用照相、示意圖或描繪等方法記錄。 7.2 被檢物表面 探傷后的被檢物表面如需特別標(biāo)明時(shí)，應(yīng)使這些記號永遠(yuǎn)保留。 7.2.1大批量探傷時(shí)，對每一個(gè)合格品應(yīng)用印記或腐蝕法以Ｐ符號標(biāo)識；如在上述方法有困難時(shí)，可用顏色標(biāo)上Ｐ符號。用Ｐ符號標(biāo)識有困難時(shí)可用標(biāo)色記號法。在被檢物表面上無法制造標(biāo)記時(shí)，可采用其它方法標(biāo)記。 7.2.2 抽樣探傷時(shí)，對成批合格產(chǎn)品按7.2.1條方法用Ｐ符號或標(biāo)色記號法標(biāo)識。 7.2.3 在有缺陷的被檢物上涂料或粉筆等標(biāo)出缺陷位置。 7.3 探傷記錄 探傷記錄應(yīng)按試驗(yàn)報(bào)告要求記錄，