1、第六章 激光干涉測長技術,自從1802年楊氏（Thomas Young）首先用實驗方法研究光的干涉現(xiàn)象以來，對光干涉的本質(zhì)及其應用研究已延續(xù)近200年的歷史。激光的出現(xiàn)和計算機技術，微電子技術的發(fā)展給光干涉技術注入了新的活力，并已成為現(xiàn)代光學中一個重要的分支。激光干涉測量技術不僅被廣泛用于對物體長度、角度、形狀、位移等幾何量的測量，還可利用其測量原理對物理量（如形變、速度、振動等）及光學系統(tǒng)特性（。

2、 自從1802年楊氏Thomas Young首先用實驗方法研究光的干涉現(xiàn)象以來，對光干涉的本質(zhì)及其應用研究已延續(xù)近200年的歷史。激光的出現(xiàn)和計算機技術，微電子技術的發(fā)展給光干涉技術注入了新的活力，并已成為現(xiàn)代光學中一個重要的分支。激光干涉。